Accelerometers by Brüel & Kjær

如何最大化振动台的动圈寿命

振动台的动圈是一个有寿命的组件,因为各种因素影响迟早需要更换。然而,有些因素可以将动圈的使用寿命最大化。

虽然 HBK LDS 振动台非常坚固耐用,但动圈是一种有寿命的组件,因此高数量的应力循环、高应力和高温将最终导致故障和更换。动圈寿命的长短取决于:

  • 它正在执行的力等级
  • 测试的类型
  • 其他因素,这将影响其寿命 

力等级
振动台和激振器 了解更多
HBK LDS电动振动台

作为指导,HBK LDS振动台在 80% 力运作时,预计寿命超过 10,000 小时。在低于 80% 的力量,预期寿命将会更长;在 80% 以上的水平会缩短。这种关系是非线性的,以 SN 曲线为基础,仅在日志记录比例上约略为直线。

 

测试的类型

电枢寿命也受测试类型的影响,如下图所示(较高的值导致寿命减少):

测试类型         价值        
 正弦扫频             1
 宽带随机(20 至 2000 赫兹)             1 
 冲击            1.5
 冲击响应频谱 (SRS)             2
 正弦+随机             2 
 窄带随机             2            
 正弦定频             3 

 

可透过试验类型的数值及对应于额定寿命的推力量级,来计算预期的动圈枢寿命。例如,在 80% 的推力下,固定频率正弦测试运行的预期寿命约为 10,000/3 = 3000 小时。

 

其他风险因素

其他可能导致动圈寿命下降的风险因素如下:

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  • 冷却空气或水的高温
  • 「拍击」组件引起的失真
  • 高 'g' 量级
  • 潮湿或多尘的环境
  • 高频率 > FN
  • 大位移
  • 水平运行
  • 在一个温度箱中运行
  • 大倾覆力矩的应用
  • 高速度
  • 高驱动
  • 动态载荷
  • 控制不良
  • 不维持参考谱
  • 维护不良
  • 无人操控
  • 大型载荷 

如果尽可能避免上述因素,同时在其指定的性能范围内使用振动台,将会获得最大的动圈寿命。