Pruebas de altavoces

Los usuarios finales tienen ideas muy claras y arraigadas de lo que esperan de los productos, de modo que es de vital importancia transformar estas expectativas en productos que satisfagan a los clientes.

Las mediciones de la calidad sonora ayudan a dar satisfacción a esas preferencias del consumidor y constituyen una forma de diferenciación de los productos. No obstante, la calidad sonora no es el único parámetro que los fabricantes quieren o necesitan evaluar:

• Definición de objetivos: ¿la respuesta, la distorsión, la impedancia, la sensibilidad, la direccionalidad y otros valores son los adecuados?
• Material acústico: ¿cómo afecta al sonido el empleo de materiales más ligeros, resistentes y económicos?
• Estructura: ¿cómo afectan los cambios en las cajas o el diseño de los componentes a las propiedades vibratorias y acústicas de un altavoz?
• Producción: ¿puede un fabricante confiar en los resultados de las pruebas de conformidad y recibir un producto de calidad?

La cantidad de pruebas necesarias para verificar las especificaciones y requisitos de rendimiento puede resultar abrumadora para un ingeniero de I+D con un plazo que cumplir y un presupuesto al que ajustarse. Por este motivo, la estandarización, la automatización, la correlación de datos y la facilidad de uso son algunas de las características más buscadas en las pruebas de I+D del sector.

Si los ingenieros tienen estos elementos —sin que se vea afectada la fiabilidad y la precisión—, estarán en muy buena situación para cumplir sus objetivos de manera rápida y eficiente.

Sistema recomendado

Para las pruebas de altavoces recomendamos el software Loudspeaker Test Application BZ-5603.

Este software permite llevar a cabo mediciones en altavoces con un montaje de instrumentación que incluye una plataforma giratoria con la que es posible registrar directamente las características direccionales del objeto del ensayo. Esta aplicación automatiza las mediciones de la respuesta en frecuencia, la distorsión armónica, la respuesta direccional y el cálculo de los parámetros de Thiele-Small mediante los métodos de impedancia simple, volumen añadido, masa añadida o métodos láser.