Prüfung von Lautsprechern

Lautsprecher und Unterhaltungselektronik sind überall zu finden: Telefone, Autos, Fernsehgeräte, Kopfhörer, Computer, Spielzeug, Durchsageanlagen und Kinos – die Liste ist unendlich.

Der Endnutzer hat eine genaue Vorstellung davon, welche Leistung er von einem Produkt erwartet. Deshalb ist es wichtig, diese Erwartungen in Produkte zu überführen, mit denen Kunden zufrieden sind. Messungen der Klangqualität helfen Kundenwünsche zu erfüllen und tragen zur Differenzierung des Produkts bei. Die Klangqualität ist jedoch nicht der einzige Parameter, der für einen Hersteller interessant ist oder beurteilt werden muss:

  • Zielsetzung – Liegen Frequenzgang, Verzerrung, Impedanz, Empfindlichkeit, Richtwirkung und andere Werte auf dem gewünschten Niveau?
  • Akustisches Material – Auf welche Weise lässt sich mit leichteren, haltbareren und kostengünstigeren Materialien der Klang beeinflussen?
  • Struktur – Wie können Änderung an Gehäuse oder Komponenten die Schwingungs- und akustischen Eigenschaften eines Lautsprechers beeinflussen?
  • Produktion – Kann ein Hersteller auf Gut/Schlecht-Ergebnisse vertrauen und hiermit ein Qualitätsprodukt erhalten?

Die Anzahl der zur Verifizierung von Leistungsspezifikationen und Anforderungen notwendigen Tests kann für einen F&E-Ingenieur, der außerdem Termine und ein Budget einhalten muss, überwältigend sein. Deshalb sind Standardisierung, Automatisierung, Datenkorrelation und Benutzerkomfort besonders aktuelle Themen bei F&E-Prüfungen in dieser Branche. Wenn dies ohne Kompromisse bei der Zuverlässigkeit und Präzision gelöst werden kann, können Ingenieure ihre Zielsetzungen schnell und effizient erfüllen.

Systemvorschlag

Speaker test

Für Lautsprecherprüfungen empfehlen wir die PULSE Loudspeaker Test Application BZ-5603. Diese Software unterstützt Messungen an Lautsprechern mit einem Drehtisch-System, das die Richtcharakteristik des Prüfobjekts automatisch aufzeichnen kann. Mit dieser Anwendung sind automatisierte Messungen von Frequenzgang, harmonischer Verzerrung, Richtcharakteristik sowie die Berechnung von Thiele-Small-Parametern mit Methoden wie einfacher Impedanz, zusätzlichem Volumen, zusätzlicher Masse oder Laser möglich.